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本日の話題を気ままにまったりとお知らせします。

株式会社日本マイクロニクス出願公開件数と特許取得件数をお知らせします。(2013年)

直近の一部をご紹介します。
■ 2013年 出願公開件数 45件 (2012年:36件)
■ 2013年 特許取得件数 56件 (2012年:43件)
公開日    2013年12月5日
量子電池の試験用半導体プローブ、試験装置及び試験方法の概要をご紹介します。

■2013年 出願公開
公報番号                  発明の名称                   公報発行日      
特開 2013-251486  吸着テーブル                               2013年12月12日    
特開 2013-250224  プローブカード及びその製造方法                   2013年12月12日    
特開 2013-248659  照射装置及び照射方法                        2013年12月12日    
特開 2013-246153  プローブカード                                 2013年12月  9日    
特開 2013-246133  接合パッド、プローブ組立体及び
                    接合パッドの製造方法                         2013年12月  9日    
特開 2013-246116  通電試験用プローブ                          2013年12月  9日    
特開 2013-246091  カンチレバー型プローブと
                    そのクリーニング方法                          2013年12月 9日    
特開 2013-246069  プローブカード、検査方法および検査装置    2013年12月  9日    
特開 2013-246964  有機EL素子の欠陥除去装置及び方法、
                     並びに、欠陥種類特定装置及び方法          2013年12月  9日    
特開 2013-242236  固体撮像素子用プローブカードとそれを
          用いる固体撮像素子の検査方法                         2013年12月  5日    
特開 2013-239617  端子間接続機構                            2013年11月28日    
特開 2013-235871  基板間接続構造                            2013年11月21日    
特開 2013-219287  多層配線基板とその製造方法                2013年10月24日    
特開 2013-205098  プローブ及びプローブカード                   2013年10月  7日    
特開 2013-200256  プローブ装置                                  2013年10月  3日    

■2013年 特許取得
公報番号                   発明の名称                             公報発行日      

特許 5371099         目視検査装置と目視検査方法                 2013年12月18日    
特許 5372706         プローブ針ガイド部材及びこれを
                   備えたプローブカード並びにそれを
                   用いる半導体装置の試験方法                   2013年12月18日    
特許 5363943       導電性シート及び導電性シートの
                  製造方法並びにプローブカー
                  及び検査装置                                         2013年12月11日    
特許 5364240          プローブユニット及び検査装置                         2013年12月11日    
特許 5367484          検査システム                                        2013年12月11日    
特許 5342418     電気的試験用プローブ及びこれを
               用いた電気的接続装置                             2013年11月13日
特許 5335614     欠陥画素アドレス検出方法並びに検出装置           2013年11月  6日    
特許 5337341      電気的接続装置およびその組み立て方法           2013年11月  6日    
特許 5328958      通電試験用プローブ組立体                          2013年10月30日    
特許 5322822      半導体検査用ウエハプローバ及び検査方法       2013年10月23日    
特許 5308958      表示パネルのためのワークテーブル及び試験装置  2013年10月 9日    
特許 5312227      プローブカード及び検査装置                           2013年10月 9日    
特許 5308845     金属微粒子の噴射ノズル                                   2013年10月 9日    
特許 5300431      被検査基板のアライメント装置                                    2013年 9月25日    
特許 5294982      電気的接続装置                                                           2013年 9月18日

公開日    2013年12月5日
量子電池の試験用半導体プローブ、試験装置及び試験方法をご紹介します。

 量子電池の製作プロセス途中での充電層の電気的特性評価を、損傷することなく行う事ができる半導体プローブによる量子電池の試験装置及び試験方法を提供する。電極54と金属酸化物半導体56とを支持体52に積層して構成された半導体プローブ50に、さらに量子電池と同じ材料でプローブ充電層58を形成し、紫外線照射する。半導体プローブ50に、量子電池と同じ材料でプローブ充電層58を形成することで、量子電池の充電層を傷つけることが無く評価が可能である。このプローブ充電層58を備えた半導体プローブ50を使用して、電圧計64と、定電流源62又は放電抵抗66により、量子電池製作途中での充電層18の充放電特性を測定する試験装置及び試験方法を提供する。

量子電池の試験用半導体プローブ、試験装置及び試験方法
  量子電池は、基板と、導電性のベース電極と、絶縁性物質で覆われたn型金属酸化物半導体を光励起構造変化させることによりバンドギャップ中にエネルギー準位を形成して電子を捕獲する充電層と、P型半導体層と、導電性の対向電極とを積層して構成されている。充電層へは、ベース電極と対向電極間に電源を接続して充電する。

 この様な量子電池は、その製作プロセスにおいて機能を確認するための電流―電圧特性及び充放電特性の評価がおこなわれている。

特許 WO2013179471A1 - 量子電池の試験用半導体プローブ、試験装置及び試験方法